두 위치 오류 현상의 직접적인 비교: Pulfrich 현상과 명멸 지체 효과

초록

이차원 공간에서 운동 자극의 진행 방향으로 위치 오류가 발생되는 명멸 지체효과(Flash lag effect: FLE)와 깊이 방향의 위치 오류가 발생하는 Pulfrich 효과는 각각 독립적으로 연구되어 왔지만 현상적 이론적 유사점이 많다. 본 연구에서는 두 현상의 오류의 크기를 직접적으로 비교하여 두 현상이 동일한 기제에 의해 발생되었을 가능성을 살펴보았다. 보다 구체적으로 각 눈에 제시된 운동 자극의 FLE의 크기가 다를 때 이 차이가 양안시차로 작용하여 Pulfrich 효과의 깊이로 산출될 수 있는 지를 알아보았다. 각 눈에 제시되는 두 운동 자극의 밝기 비율을 네 수준(1:2, 1:3.3, 1:5, 1:10)으로 나눈 다음 이들 자극으로부터 발생되는 Pulfrich 효과의 깊이를 측정하였고, 동일한 실험 상황하에서 Pulfrich 효과의 깊이 측정에 사용되었던 다섯 수준의 밝기 자극(1, 2, 3.3, 5, 10)의 FLE 크기를 각각 측정하였다. 본 연구에 포함된 밝기 차 조건하에서 Pulfrich 깊이는 밝기 비율이 커질수록 증가하는 데 반해, FLE의 크기는 큰 차이를 보이지 않았다. 또한 FLE의 차가 양안 시차로 작용한다면 그로부터 예상할 수 있는 Pulfrich 깊이와 실제 측정된 Pulfrich 효과의 깊이는 다른 것으로 나타났다. 이러한 결과는 두 현상이 동일한 기제에 의해서 발생되는 것이 아님을 시사한다.

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