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Beam Induced Fluorescence 모니터를 이용한 KIRAMS-13 싸이클로트론의 양성자빔 횡단면 측정
Transverse Profile Measurement of Proton Beam using the Beam Induced Fluorescence Monitor in KIRAMS-13 Cyclotron
- 남순권;
- 김기범
초록
권역별 싸이클로트론연구소에 설치되어 있는 KIRAMS-13 싸이클로트론에서 안정적이고 최적화된 양성자빔을 인출하기 위해서는 양성자빔의 횡단면 측정이 필수적이다. 빔의 횡단면 측정장치 중 비파괴적인 방법인 BIF(Beam Induced Fluorescence) 모니터는 그 구조가 상대적으로 간단하고 빔의 에너지 손실을 최소화하며 실시간 측정이 가능하다는 장점이 있다. 이 연구에서는 KIRAMS-13 싸이클로트론에서 양성자빔의 횡단면 측정을 위한 BIF 모니터를 설계하고 제작한 후 13 MeV 양성자빔 조사실험을 통하여 양성자 빔의 중심 및 반경을 측정하였다.
키워드
BIF 모니터; 13 MeV 양성자빔; 횡단면 측정; BIF monitor; 13 MeV proton beam; Measurement of transverse profile
- 제목
- Beam Induced Fluorescence 모니터를 이용한 KIRAMS-13 싸이클로트론의 양성자빔 횡단면 측정
- 제목 (타언어)
- Transverse Profile Measurement of Proton Beam using the Beam Induced Fluorescence Monitor in KIRAMS-13 Cyclotron
- 저자
- 남순권; 김기범
- 발행일
- 2009-11
- 유형
- Y
- 권
- 18
- 호
- 6
- 페이지
- 418 ~ 425