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Structural characterization of defects and interfaces in the semiconductors using high voltage electron microscopy
- 제목
- Structural characterization of defects and interfaces in the semiconductors using high voltage electron microscopy
- 저자
- 임성환
- 발행일
- 2005-05-26
- 학회명
- 한국전자현미경학회 춘계학술대회및 제3회 HVEM이용자 워크샵
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2005-05-26 ~ 2005-05-26