김시준 프로필 사진

김시준

Kim, Si Joon

춘천캠퍼스

대학

IT대학

전기전자공학과

ORCID

연구분야

  • 반도체·디스플레이 소자 및 공정

자료 필터

자료유형

발행연도

2013 ~ 2026
2013 2026

키워드

언어

전체 158건 중 81번부터 90번까지의 결과를 표시합니다.

2022
Conference

In-situ half-cycle study of high purity H2O2-based HfO2 atomic layer deposition for Hf based ferroelectric devices applications

  • 김시준 ; 
  • Jinhyun Kim ; 
  • Yong Chan Jung ; 
  • Su Min Hwang ; 
  • Dan N. Le ; 
  • 외 5명
  • 2022-06-26
  • 벨기에
Conference

Furnace annealing effect on ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 thin films

  • 김시준 ; 
  • 조민관 ; 
  • 강종묵 ; 
  • 공태호 ; 
  • 김지희 ; 
  • 외 4명
  • 2022-06-22
  • 대한민국
Conference

A study on ferroelectric properties of Hf0.5Zr0.5O2-based MFIS capacitors

  • 김시준 ; 
  • 조민관 ; 
  • 강종묵 ; 
  • 공태호 ; 
  • 김지희 ; 
  • 외 4명
  • 2022-06-22
  • 대한민국
Conference

Effect of ramp rate during furnace annealing on ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 thin films

  • 김시준 ; 
  • 조민관 ; 
  • 강종묵 ; 
  • 공태호 ; 
  • 김지희 ; 
  • 외 4명
  • 2022-06-22
  • 대한민국
Conference

W electrode effect on ferroelectric properties of ALD-Hf0.5Zr0.5O2 films

  • 김시준 ; 
  • 유정규 ; 
  • 박혜련 ; 
  • Yong Chan Jung ; 
  • Jiyoung Kim
  • 2022-06-22
  • 대한민국
Conference

A study on ferroelectric properties of ALD-(Hf,Zr)O2 thin films using a combinatorial approach

  • 김시준 ; 
  • 유정규 ; 
  • 박혜련 ; 
  • Yong Chan Jung ; 
  • Jiyoung Kim
  • 2022-06-22
  • 대한민국
Article

Relaxation Induced by Imprint Phenomena in Low-Temperature (400 °C) Processed Hf0.5Zr0.5O2-Based Metal-Ferroelectric-Metal Capacitors

  • Mohan, Jaidah ; 
  • Jung, Yong Chan ; 
  • Hernandez-Arriaga, Heber ; 
  • Kim, Jin-Hyun ; 
  • Onaya, Takashi ; 
  • ... Kim, Si Joon ; 
  • 외 4명
  • 2022-04-26
  • ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS
  • AMER CHEMICAL SOC
Article

High wet-etch resistance SiO2 films deposited by plasma-enhanced atomic layer deposition with 1,1,1-tris(dimethylamino)disilane

  • Hwang, Su Min ; 
  • Kim, Harrison Sejoon ; 
  • Le, Dan N. ; 
  • Sahota, Akshay ; 
  • Lee, Jaebeom ; 
  • ... Kim, Si Joon ; 
  • 외 7명
  • 2022-03
  • Journal of Vacuum Science and Technology A
  • A V S AMER INST PHYSICS
Conference

The scaling of low-temperature ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 thin films using anhydrous H2O2

  • 김시준 ; 
  • Yong Chan Jung ; 
  • Jin-Hyun Kim ; 
  • Jaidah Mohan ; 
  • Heber Hernandez-Arriaga ; 
  • 외 4명
  • 2022-02-27
  • 미국